上海佑科雙光束紫外可見分光光度計UV762
該產品是一種全新的雙光束自動掃描紫外可見分光光度計。采用了全新的光學系統設計、微機控制和處理數據、大屏幕LCD中文窗顯示操作菜單、光譜圖和分析測試數據。具有光度測量、自動掃描測量光譜、定量分析、動力學分光光度分析等多項功能。分析靈敏度和精確度高；光譜數據處理功能強；采用中文人機對話、操作方便；儀器外形美觀大方。
廣泛用于藥品檢驗、醫藥衛生、生物化學、環境監測、商品檢驗、石油化工、黑色和有色冶金等領域，是質量控制、技術鑒定和科學研究所必須的基本設備。
雙光束紫外可見分光光度計UV762功能特點：
關鍵元件采用元件，全新獨特的光學系統設計，使儀器的主機具有優良的光學性能和測光性能，雜散光低，測光精確度和穩定可靠性高。
真正的雙光束測光系統，配合先進的電路測控系統，使儀器具有較高的可靠性和極低的噪聲。
獨特的氘燈和鎢燈安裝，光源自動切換及自動尋找位置的設計和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全．
采用大屏幕中文窗口(LED)液晶屏顯示，具有良好的人機對話界面．
優良的軟件設計和編制，使儀器有較強光譜數據處理功能：自動掃描測量光譜, 多波長( 1-3λ) 測定、動力學測定、１－３次曲線擬合、１－４階導數光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數據。
基于Windows 平臺開發的強大軟件，界面友好，功能強大，方便您的存儲輸出，方便辦公，節省費用。
性能指標
波長范圍：190nm～1100nm
光譜帶寬：2nm
波長準確度：≤±0.3nm(開機自動校正)
波長重復性：≤0.2nm
透射比準確度：±0.3%(T)
透射比重復性：0.1%(T)
透射比測量范圍：0～200%T
吸光度測量范圍：-0.301～3.000A
雜光：≤0.15%(在220nm處，以NAI測定)
漂移：≤0.002A/H （500nm處）
噪聲：100%線噪聲≤0.15%T；0%線噪聲≤0.1%T
掃描速度：快 中 慢